Taramalı tünelleme mikroskobu
Günümüz dünyasında Taramalı tünelleme mikroskobu geniş bir kitlenin büyük ilgisini çeken bir konu haline geldi. Taramalı tünelleme mikroskobu ortaya çıkışından bu yana tartışma ve çekişmelere yol açarak bu konudaki bakış açılarının çeşitliliğini yansıtan çeşitli görüş ve yaklaşımlara yol açtı. Taramalı tünelleme mikroskobu toplumun dikkatini çekmeye devam ettikçe bunun etkilerini, sonuçlarını ve potansiyel çözümlerini yakından incelemek önemlidir. Bu makalede, Taramalı tünelleme mikroskobu ile ilgili tüm yönleri kapsamlı bir şekilde inceleyeceğiz ve okuyucuya bugün çok alakalı olan bu konuyla ilgili eksiksiz ve güncel bir vizyon sunacağız.
Taramalı tünelleme mikroskobu, yüzeyleri atomik düzeyde görüntülemek için kullanılan alettir. 1981'de, Gerd Binnig ve Heinrich Rohrer tarafından icat edilmiş olup, kendileri 1986 yılında bu icatla Nobel Fizik Ödülü'nü kazanmışlardır.
Kaynakça
- ^ Binnig, Gerd; Rohrer, Heinrich (1986). "Scanning tunneling microscopy". IBM Journal of Research and Development (İngilizce). 30 (4). ss. 355-69.
- ^ "Nobel Fizik Ödülü 1986" (İngilizce). Nobel Vakfı. 12 Mayıs 2016 tarihinde kaynağından arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
Konuyla ilgili yayınlar
 |
Wikimedia Commons'ta Taramalı tünelleme mikroskobu ile ilgili ortam dosyaları bulunmaktadır. |
- Lapshin, R. V. (2004). "Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology". Nanotechnology (İngilizce). 15 (9). ss. 1135-1151. Bibcode:2004Nanot..15.1135L. doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. ISSN 0957-4484. 9 Eylül 2013 tarihinde kaynağından (PDF) arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
- Lapshin, R. V. (2011). "Feature-oriented scanning probe microscopy". Nalwa, H. S. (Ed.). Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology (İngilizce). 14. American Scientific Publishers. ss. 105-115. ISBN 978-1-58883-163-7. 9 Eylül 2013 tarihinde kaynağından (PDF) arşivlendi. Erişim tarihi: 13 Mart 2019.
- Fujita, D.; Sagisaka, K. (2008). "Topical review: Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy". Science and Technology of Advanced Materials (İngilizce). 9 (1). s. 013003. Bibcode:2008STAdM...9a3003F. doi:10.1088/1468-6996/9/1/013003. PMC 5099790 $2. PMID 27877921.
- Wiesendanger, Roland (1994). Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications (İngilizce). Cambridge University Press. ISBN 978-0-521-42847-7.
